為您的寬能隙裝置提供電源、監控訊號和分析特性的解決方案
請觀看由 Andrea Vinci 製作的影片，他在影片中談到了 「新型高功率半導體裝置」的測試解決方案。
關於可靠性測試的應用摘要
隨著寬能隙半導體逐漸擴及更多應用領域，確保其長期可靠性已是裝置設計過程中的重要步驟。
若能在裝置設計早期就進行準確的測試，就能在裝置封裝或進入生產環境之前找出問題點。除了直流電源供應器、資料擷取設備、電源量測設備 (SMU) 和數位萬用電錶 (DMM) 等高品質測試裝置外，工程師還可以使用功能強大的軟體工具加快裝置分析的速度，進而節省測試自動化和資料收集的時間。
所有寬能隙相關量測的技術簡介
高功率裝置量測變得越來越複雜。本技術簡介重點介紹了一些最常執行的功率半導體裝置測試、與其相關的挑戰，以及 Keithley SMU 儀器如何簡化測試過程。
請下載我們的技術文章，瞭解我們的解決方案如何有助於為您的 WBG 裝置提供電源、監控訊號和分析特性。