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MOSFET的7大特性分析測試

分析 MOSFET 的電氣行為特性是半導體產業中最常見的任務之一。從使用2D 材料的大學實驗室，到在全矽晶片上執行製程驗證的製造現場，這些測試無處不在。因此，業界的工程師依賴於對裝置的準確分析來掌握裝置的特性，以及在更複雜的場景中針對裝置行為進行建模。


請加入Keithley 產品經理 Jim Bucci 的精彩會談，他將解釋 FET 的七項關鍵特性分析測試，從經典的汲極系列曲線，到閘極-汲極電容掃描，以及介於兩者之間，另外五項不可不知的測試內容。我們將說明每個測試的內容、展示執行的步驟，並解釋您可以透過這些測試掌握哪些裝置相關資訊。


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  • 3 端和 4 端 FET的七大特性分析測試
  • 正確的測試連接以獲得良好的量測結果
  • 如何選擇合適的特性分析測試

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演講者:

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Jim Bucci

Tektronix 產品經理

Jim Bucci 是 Tektronix 的 Keithley 參數分析儀產品系列的產品經理。Jim 於 2015 年加入 Keithley，此後曾擔任過測試工程師、應用工程師和產品經理。他負責支援 SMU、靜電計、參數分析儀和生產半導體測試儀產品系列。在加入 Keithley 之前，Jim 於 2013 年在美國凱斯西儲大學 (Case Western Reserve University) 獲得電機工程學士學位，並在測試與量測產業擔任應用工程師。