半導体パラメータ・アナライザ入門
高感度の電流/電圧測定、インピーダンス測定、超速IV測定（パルス測定)が1台で簡単、正確に実現。半導体デバイス、材料、電子部品など様々なデバイスの電気特性評価に活用されている半導体パラメータ・アナライザの基本を学びましょう。（全9本）
※ 音声はすべて日本語です。
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計測に使用される一般用語の解説
感度、分解能、精度、確度、誤差など、計測器に関するよく使われる用語ですが、その意味はしっかり把握されていますか？このビデオでは、ケースレー製品及び一般的な電気計測や測定装置に使用される用語の意味を解説します。※動画を拡大するには、右下にあるフルスクリーン・ボタンを押してください。
パルス測定における基本用語の定義
DC測定とパルス測定の違いは？このビデオでは、その解説とケースレーのパラメータ・アナライザ4200A-SCS型で実行するパルス測定に関する基本用語及びその定義について詳しく解説します。※動画を拡大するには、右下にあるフルスクリーン・ボタンを押してください。
測定確度と印加確度の算出方法
「トータル確度＝測定確度＋印加確度」。それぞれどのように算出されるのでしょうか。ここでは4200A型で使用するSMUを例として、データシートの見方及び電流、電圧測定確度の算出方法を解説します。※動画を拡大するには、右下にあるフルスクリーン・ボタンを押してください。
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