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Impatto sonde/sistema di misura sul circuito sotto test

Agenda del seminario

Le cosiddette Power Distribution Networks (PDNs) devono alimentare la parte analogica e digitale di un circuito attraverso linee (o rails) il più possibile esenti da rumore e con un segnale DC molto stabile, in particolare se il dispositivo da alimentare è un microprocessore, o un DSP o un ASIC ad alta densità.

Se sulla scheda viaggiano segnali ad alta velocità e con fronti di commutazione molto ripidi, è evidente che le linee di alimentazione, oggi richieste con tensioni sempre più basse ma correnti sempre maggiori, possano soffrire di problemi di rumorosità per accoppiamento. Alla cosiddetta integrità del segnale si affianca il concetto di "power integrity" per le linee di alimentazione, che a loro volta devono rispettare specifiche in condizioni operative nei confronti del loro "Point of Load (POL)" da alimentare.

Come misurare dunque eventuali rumorosità dell'ordine del mV o meno in presenza di segnali DC di modo comune elevati ma fino a frequenze di qualche GHz?

Le comuni sonde passive possono non essere in grado di rispondere alle necessità di misura in questi frangenti.

Tektronix presenta alcune novità in ambito sonde che possono essere estremamente interessanti sia per chi si occupa di power integrity sia per chi si occupa di signal integrity su linee seriali ad alta velocità.

E' prevista anche una breve dimostrazione pratica del sistema di misura

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Presenta

Enrico Citti

Enrico Citti

Staff Application Engineer, Tektronix EMEA

Enrico ha una laurea in Ingegneria Elettronica conseguita presso l'Università di Perugia.

Fino al 2017 ha lavorato come VHDL Firmware engineer su sistemi avanzati per Telecomunicazioni e come progettista e installatore.

Oggi supporta la pre vendita tecnica in Italia e in altre nazioni d'europa per il portafoglio prodotti Keithley e per l'area Tektronix Mainstream.